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  • PTR系列測試探針

    測試探針作為探針臺的核心部件之一,主要用途是接觸連接待測件電極,為半導體芯片的電參數測試提供一個導通條件,從不同應用場景可分為鎢鋼探針、鎢鋼鍍金探針、鍍金軟針、鎢鋼角度探針等,被廣泛應用于半導體及光電等行業的測試。

    更新日期:2024-06-23
    型號:PTR系列
    廠商性質:生產廠家
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